Prestations de microscopie de pointe : MET, MEB, Imagerie FIB à double faisceau

Le groupe de Microscopie comprend l’effectif ainsi que le matériel pour effectuer une FESEM (Field Emission Scanning Electron Microscopy) [Microscopie électronique à balayage à effet de champ) outil de technologie utilisé dans le cadre d’analyses de surface structurale et en coupe transversale de circuits intégrés. L’EDX (Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy [Spectroscopie rayons X à dispersion d’énergie]) est utilisée pour effectuer l’analyse élémentaire de matériaux, à la fois qualitative et quantitative. La FETEM (Field Emission Transmission Microscopie électronique [Microscopie électronique à transmission à effet de champ]) est utilisée pour effectuer la microanalyse avec résolution spatiale sub-nanométrique.

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