Spectroscopie photoélectronique par rayons X/Spectroscopie électronique pour analyse chimique (XPS / ESCA)

Spectroscopie photoélectronique par rayons X/Spectroscopie électronique pour analyse chimique (XPS / ESCA)La Spectroscopie photoélectronique par rayons X (analyse XPS, abréviation de « X-ray Photoelectron Spectroscopy »), également appelée Spectroscopie électronique pour analyse chimique (ESCA, abréviation de « Electron Spectroscopy for Chemical Analysis ») sert à déterminer la composition atomique quantitative et la composition chimique. C'est une technique analytique des surfaces avec un volume d'échantillonnage qui part de la surface pour aller à une profondeur approximative de 50 à 70 angströms. Alternativement, l’analyse XPS peut servir au profilage en profondeur par pulvérisation pour caractériser les couches minces en quantifiant les éléments du niveau de matrice comme fonction de profondeur. L'analyse XPS est une technique d'analyse élémentaire qui est unique en son genre pour donner des informations sur l’état chimique des éléments détectés, comme par exemple distinguer entre les formes sulfate et sulfite de l'élément souffre. Le procédé travaille en irradiant un échantillon de rayons X monochromatiques, ce qui entraîne l'émission de photoélectrons dont les énergies sont caractéristiques des éléments qui se trouvent à l'intérieur du volume d'échantillonnage.

Chez Evans Analytical Group® (EAG), nous utilisons cette technique dans une grande quantité d'applications pour aider nos clients, pour aider nos clients, qui appartiennent à un grand éventail de secteurs industriels, à faire de la R&D ainsi que du développement/de l'amélioration des processus.

XPS / ESCA - EAG FranceVoici quelques exemples :

  • Identifier les tâches et les décolorations
  • Caractériser les processus de nettoyage
  • Analyser la composition des poudres et des débris
  • Déterminer les sources de contaminants
  • Examiner la fonctionnalité des polymères avant et après le traitement pour identifier et quantifier les changements des surfaces
  • Mesurer l'épaisseur des films lubrifiants sur les disques durs
  • Obtenir des profils de profondeur sur les piles de couches minces à la (à la fois conductrices et non conductrices) pour les composantes du niveau de la matrice
  • Évaluer les différences d'épaisseur d'oxyde entre les échantillons

Ces connaissances ce qui forme la composition chimique d’un produit vous permettent de faire plus rapidement des améliorations des produits et des processus, ce qui vous met en mesure de réduire le temps du cycle et d'épargner de l'argent.

Avec EAG, vous avez également accès aux meilleures installations, aux meilleurs instruments et aux meilleurs scientifiques qui existent pour exécuter une analyse XPS. Nous manipulons de nombreux matériaux différents issus de multiples secteurs industriels, ce qui nous donne une expérience des plus variées. De plus, de notre service de personne à personne vous assure de recevoir des réponses à toutes vos questions.

  • Analyse des surfaces de matériaux organiques inorganiques, taches ou résidus
  • Détermination de la composition des surfaces et informations sur l'état chimique des surfaces
  • Profilage en profondeur de la composition des couches minces
  • Épaisseur de l’oxynitrure du silicium et mesure des doses d’oxynitrure du silicium
  • Mesures de l'épaisseur de l'oxyde des couches (SiO2, Al2O3 etc.)

Signal détecté : photoélectrons d'atomes près de la surface

Éléments détectés : Informations sur les liaisons chimiques Li-U

Seuils de détection : 0.01 - 1 à% sous-monocouche

Résolution en profondeur : 20 - 200 angströms (mode profilage); 10 - 100 angströms (analyse des surfaces)

Imagerie/cartographie : Oui

Résolution en profondeur/taille de la sonde : 10 µm - 2 mm

  • Identification de l'état chimique sur les surfaces
  • Identification de tous les éléments saufs H et He
  • Analyse quantitative, dont les différents états chimiques entre échantillons
  • Applicable à une grande quantité de matériaux différents, y compris aux échantillons isolants (papier, plastique et verre)
  • Profilage en profondeur avec des concentrations du niveau de la matrice
  • Mesure de l'épaisseur d'oxyde
  • Seuils de détection généralement ~ 0.1 à%
  • Plus petites zones d'analyse ~10 µm Informations organiques spécifiques limitées
  • Compatibilité de l'échantillon avec l'environnement
  • Aérospatiale
  • Automobile
  • Biomédical/biotechnologie
  • Semi-conducteurs composés
  • Stockage de données
  • Défense
  • Écrans d’affichage
  • Électronique
  • Produits industriels
  • Éclairage
  • Produits pharmaceutiques
  • Photonique
  • Polymères
  • Semi-conducteurs
  • Photovoltaïque solaire
  • Télécommunications
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