Microscopie électronique à balayage, analyse SEM

Microscopie électronique à balayage, analyse SEMLa microscopie électronique à balayage (SEM, abréviation de l'anglais « Scanning Electron Microscopy ») donne des images à haute résolution et des images à grande profondeur de champ de la surface des échantillons et de la surface proche. L'analyse SEM est l’un des outils analytiques les plus couramment employés en raison des images extrêmement détaillées qu'elle peut donner rapidement. Alliée à un détecteur auxiliaire EDS (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy), l'analyse SEM peut offrir une identification élémentaire de presque tout le tableau périodique des éléments.

Evans Analytical Group® (EAG) utilise l'analyse SEM dans les cas où la microscopie optique ne peut donner une résolution d'image suffisante ou une amplification assez élevée. Parmi ces applications, il faut citer l'analyse Microscopie électronique à balayage, analyse SEM - EAG Francedes défaillances, l'analyse dimensionnelle, la caractérisation des processus, l'ingénierie inversée et l’identification des particules. L'expertise et la gamme d'expérience d’EAG dont d’une valeur inestimable pour les secteurs industriels et les clients que nous servons. Notre service de personne à personne assure la bonne communication des résultats et de leurs implications. Les clients sont souvent présents pendant l'analyse, ce qui permet de partager immédiatement les données, l’imagerie et les informations.

Veuillez cliquer ici pour en savoir plus sur EMview, le logiciel d’EAG d'affichage et de traitement de données SEM, FIB, TEM et STEM.

  • Images à haute résolution
  • Microanalyse élémentaire et caractérisation des particules

Signal détecté : électrons et rayons X secondaires et rétrodiffusés, courant absorbé, lumière (cathodoluminescence) et courant induit (EBIC)

Éléments détectés : B-U (mode EDS)

Seuils de détection : 0.1-1à%

Résolution en profondeur : 0.5-3µm (EDS)

Imagerie/cartographie : Oui

Résolution en profondeur/taille de la sonde : 15-45Å

  • Imagerie rapide à haute résolution
  • Identification rapide des éléments présents
  • Bonne profondeur de champ
  • Plate-forme polyvalente qui accepte beaucoup d'autres outils
  • Compatibilité avec le vide généralement nécessaire
  • Gravure éventuellement nécessaires pour le contraste
  • L’analyse SEM peut nuire à des analyses ultérieures
  • Les restrictions tenant à la taille peuvent imposer de couper l'échantillon
  • La résolution ultime est une fonction solide de l'échantillon et de la préparation
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