Spectrométrie de Masse à Décharge Luminescente, analyse GDMS

Spectrométrie de masse à décharge luminescente, analyse GDMSLes échantillons solides sont analysés par la Spectrométrie de Masse à Décharge Luminescente (GDMS, abréviation de l'anglais « Glow Discharge Mass Spectrometry ») en étant exposés à une décharge de gaz ou à une atomisation par plasma/source d'ionisation. C'est généralement l'argon qui sert de gaz de décharge. La sensibilité, la facilité de calibrage, la souplesse et la robustesse proposées pour analyser une grande variété de types d’échantillons et de matrices font de l'analyse GDMS un excellent choix pour l'analyse élémentaire des traces. Outre des études élémentaires complètes, il est également possible de mesurer et d'évaluer quantitativement, et avec une sensibilité élevée, les distributions élémentaires en fonction de la profondeur.

Le groupe EAG Laboratories est le leader de l'industrie en services de Spectrométrie de Masse à Décharge Luminescente (GDMS), car il offre les meilleurs seuils de détection, ainsi que la possibilité de déterminer des conclusions par fraction de masse dans le plus large éventail possible de solides, de couches et de revêtements. Chez EAG Laboratories, l’expérience étendue et approfondie que nous avons dans le développement de méthodes analytiques relevant du domaine de la GDMS, ainsi que le temps que nous y consacrons sont sans équivalents sur le marché : nous avons le plus grand nombre d'instruments GDMS, et les scientifiques les plus qualifiés à votre disposition pour traiter les problématiques que vous rencontrez.

Au sein d'EAG Laboratories, nous utilisons régulièrement l'analyse GDMS pour aider nos clients, qui appartiennent à un grand éventail de secteurs industriels, à faire de la R&D, du contrôle qualité, le suivi des processus et de développement. Grâce au service de personne à personne que nous vous fournissons tout au long du processus, vous pouvez avoir une compréhension complète des résultats des tests et de leurs applications potentielles.

Pour toute demande d'analyse par GDMS, IGA, ICP-OES, ICP-MS ou Analyse thermique (TGA & DTA), veuillez remplir le formulaire de demande d'analyse ci-dessous, et transmettez-le nous par e-mail à l'adresse info.fr :

 

  • Analyse élémentaire complète de solides inorganiques avancés à haute pureté (métaux, alliage, graphites, semi-conducteurs, oxydes, céramique)
  • Mesure de la distribution des traces et des ultra traces en fonction de la profondeur, sur couches et revêtements
  • Identification des éléments inconnus à partir de petites quantités d'échantillons (< 0.1g)
  • Caractérisation élémentaire complète de poudres et de particules

Signaux détectés : Ions

Éléments détectés : Tableau complet des éléments périodiques (sauf H - Détermination semi-quantitative des éléments C, N et O)

Seuils de détection : Sous-μg/kg (ppbw)

Zone classique d'échantillonnage : Entre 5-15 mm (50-80 mm2)

  • Tableau complet des éléments périodiques (étude complète des isotopes stables, sauf H)
  • Détection allant de sous-ppb (μg/kg) à ppt (ng/kg)
  • Effet de matrice minimal
  • Calibrage linéaire et simple
  • Capacité d'analyser des céramiques et d'autres isolants
  • Mesure de la distribution en fonction de la profondeur, avec une sensibilité élevée
  • Hétérogénéité des échantillons
  • Échantillons volatiles
  • Ne convient pas aux matériaux organiques/aux polymères
  • Cibles de pulvérisation
  • Aérospatiale
  • Nucléaire
  • Métaux réfractaires et alliages réfractaires
  • Terres rares et oxydes de terres rares
  • Matériaux électroniques
  • Matériaux photovoltaïques et matériaux de production d'électricité
  • Production de matériaux de grande pureté
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